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由于长期使用及管道震动等多因素引起浮子流量计传感磁钢、指针、配重、旋转磁钢等活动部件松动,造成误差较大。解决方法:可先用手推指针的方式来验证。首先将指针按在RP位置,看输出是否为4mA,流量显示是否为0%,再依次按照刻度进行验证。若发现不符,可对部件进行位置调整。一般要求专业人员调整,否则会造成位置丢失,需返回厂家进行校正。无电流输出首先看接线是否正确。液晶是否有显示,若有显示无输出,多为输出管坏,需更换线路板。
传感器是实现测试与自动控制的重要环节。在测试系统中,被作为一次仪表,其主要特征是能准确传递和检测出某一形态的信息,并将其转换成另一形态的信息。具体地说传感器是指那些对被测对象的某一确定的信息具有感受(或响应)与检出功能,并使之按照一定规律转换成与之对应的可输出信号的元器件或装置。如果没有传感器对被测的原始信息进行准确可靠的捕获和转换,一切准确的测试与控制都将无法实现,即使 现代化的电子计算机,没有准确的信息(或转换可靠的数据),不失真的输入,也将无法充分发挥其应有的作用。
Simplelink传感器控制器是 的16位单元(CPU)核心,在活动模式、待机模式和启动耗能阶段均只消耗极低功率。如图2所示,该传感器控制器包括模拟和数字外围设备,它们专为实现超低功率而进行了优化。利用这些外围设备和2MHz时钟模式,使得该控制器非常适合感应式测量应用,从而实现超低功率:,基于感应式测量原则,可以在100Hz时达到低至3.9μA的平均电流消耗值。欲了解详情,请参阅流量表应用示例,阅读“采用CC13x2R无线MCU的单芯片流量表解决方案。
无论是实验室环境还是生产车间,都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件和PXI功能,以帮助芯片商应对他们面临的挑战,这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小,NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能,它能更高的直流通道密度,使多站点应用具有更高的并行性,以及在生产中实验室级别的测量质量。
上一讲主要讲述了到底是哪些原因引发了T/R组件测试安全性问题,它涉及到操作人员、被测T/R组件、测试仪器、测试程序和测试数据等多方面的安全问题,那怎么实现安全性增长呢?加强操作人员的防护和被测组件的屏蔽隔离(铁布衫+罩)笔者经常在国内各大工院所中发现操作人员自身的防护观念较为淡漠,普遍嫌麻烦。在大功率测试环境下,操作人员应该佩戴防护 、眼镜和防辐射工作服。科研人员不是义和团,你以为自己不入呢?老老实实穿上铁布衫吧。
一项创新技术的出现,必然要与传统技术进行搏杀,可能是鱼死网破两败俱伤,可能是互相妥协和平共处,也可能多方投降一家独大,LoRa与NB-IOT哪个才是物联网的娇宠?物联网的无线通信技术很多,主要分为两类:一类是ZigBeWi-F蓝牙、Z-wave等短距离通信技术;另一类是LPWAN(low-powerWide-AreaNetwork,低功耗广域网),即广域网通信技术。物联网的快速发展对无线通信技术提出了更高的要求,专为低带宽、低功耗、远距离、大量连接的物联网应用而设计的LPWAN也快速兴起。
在大多HIL系统中一个关键组成部分是自动故障,PickeringInterfaces看到了用于多数量IO的ECU测试的高密度故障注入关需求越来越大,尤其在自动化和航天工业方面。BobStasonis先生继续谈到:Pickering经常根据客户的需求将关密度到极限,高密度关模块的新趋势包括日益增长的带宽需求和在一些市场尤其是半导体工业上,对隔离电阻的验证。目前,我们平均的隔离电阻规范为10^9Ω。