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交叉编译相关库移植人脸识别算法库,该库基于NCNN神经网络上搭建人脸识别系统,依赖的库有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。这些库需要交叉编译,其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已经不需要再进行编译,编译后的NCNN和人脸识别算法库都是静态库,不需要拷贝到目标板上。人脸检测Demo通过Qt来实现界面显示,首先在pro文件中添加VSDK中获取摄像头数据的相关库,算法移植的相关库,然后通过如下API接口获取图像数据。
因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试,然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量,我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度,适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷,在有些情况下也可用于环境应力筛选,剔除产品的早期故障。
激光的发展不仅是光纤激光器,在216年紫外激光器也取得了令人瞩目的增长,两三年前 固体紫外激光器的总出货量不过3台左右,到216年猛增至一万台,行业出现缺货现象,紫外激光器一时间“洛阳纸贵”。紫外激光器是很多工业领域中各种PCB材料应用的选择,从生产 基本的电路板,电路布线,到生产袖珍型嵌入式芯片等 工艺都通用。这一材料的差异性使得紫外激光器成为了很多工业领域中各种PCB材料应用的选择,从生产 基本的电路板,电路布线,到生产袖珍型嵌入式芯片等 工艺都通用。
结合近场探头组,该示波器使设计者不仅能够快速EMI骚扰来源,还能够分析EMI问题。高动态范围和500uV/div的高输入灵敏度确保了即使是微弱的辐射也能对其进行分析。RSRTE具有实时频谱分析的快速傅立叶变换(FFT)全硬件的实现方式使其具有极快的频谱更新速率,并且FFT帧重叠算法和色温显示方式使其能够洞察干扰辐射的每一个细节。这些都能帮助设计者快速的检测干扰辐射源。罗德与施瓦茨公司便携的RSHZ-15以及经济型的HZ-17近场探头组,它们对嵌入式设计的EMI诊断极具帮助。
LED研发一LED光源半导体芯片发热利用热像仪,工程师可以根据得到的光源半导体芯片发热红外热图,分析出其芯片在工作时的温度,以及温度的分布情况,在此基础,达到提高LED产品寿命的目的。二LED模块驱动电路在LED产品研发中,需要工程师进行一部分驱动电路设计,整流器电路模块。利用红外热像仪,工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处,便于完善电路设计。三光衰试验LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱,而现阶段 的LED大厂们出的LED产品光衰程度都不相同,大功率LED同样存在光衰,这和温度有着直接的关系,主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。
如果套管内部存在缺陷,也可能导致套管异常发热。在这种情况下,发生故障套管的整体温度一般较其他正常的两相高(如下图红外热像仪应用在套管上)。如果套管内部或外部接头存在接触 ,或接点被氧化腐蚀,也可能导致套管接触点温度异常。在这种情况下,发生故障套管接触点就会表现出触点的温度明显高于其他正常的点或线路或套管。变压器套管热缺陷的红外热像仪应用检测依据根据DL/T664-20089.1电流致热型设备的判断:套管将帽与外部接线板或内部导电杆接触 是电流致热故障,判断依据如下:套管内部存在缺陷的情况比较复杂:有可能是电压致热故障所引起的,也有可能是套管机械损伤造成的。
滤波器的储存属性造成了振铃现象,即信号中增加了多余周期。群延时显示了提升滤波器占据的时长。低频凸起具有很长的振铃,这不足为奇。群延时与滤波器频率成反比(与波长成正比),相位偏移相等时,频率越低,群延时越长。为方便演示,我们以所示的信号链路为例。我们输入一个测试信号,看看将发生什么。为2通道示波器显示的结果。蓝色轨迹为1000Hz6.5周期的小波。这是DonKeele测试信号中的一个。红色轨迹为此信号通过一个1000Hz提升滤波器之后的结果。